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金鎳膜厚測量儀X-RAY膜厚儀XRF-2020測厚儀

更新時間:2024-11-04

簡要描述:

金鎳膜厚測量儀X-RAY膜厚儀XRF-2020測厚儀功能及特點
1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材!
1. 鍍層元素范圍:鈦~鈾,包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金,鉻,鋅鎳合金等。
2. 鍍層層數:可測5層。
3. 測量產品位置尺寸:標準配備0.2mm準直器,測量產品大于0.4mm(可訂制更小準直器)
4. 測量時間:通常15秒。

Micropioneer XRF-2000膜厚儀XRF-2020測厚儀


功能及特點產品行業及應用:


測量各類五金,電子連接器端子半導體等電鍍層厚度。

可測金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鉻,銠,鉑,鋅鎳合金等鍍層。

可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層等。

適應電鍍生產企業,產品來料檢測半導體五金電鍍等相關行業。


金鎳膜厚測量儀X-RAY膜厚儀XRF-2020測厚儀功能及特點:


1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材!

1. 鍍層元素范圍:鈦~鈾,包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金,鉻,鋅鎳合金等。

2. 鍍層層數:可測5層。

3. 測量產品位置尺寸:標準配備0.2mm準直器,測量產品大于0.4mm(可訂制更小準直器)

4. 測量時間:通常15秒。


金鎳膜厚測量儀X-RAY膜厚儀XRF-2020測厚儀配置


全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量

儀器全系均為全自動臺,自動雷射對焦!

多點自動測量

可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換

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韓國MicroP XRF-2020膜厚儀


功能應用:


檢測電子電鍍,五金電鍍,PCB板,LED支架半導體連接器等電鍍層厚度。

測量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳,鍍鋅鎳合金等

可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量,不限底料

可測單鍍層,雙多鍍層,多鍍層及合金鍍層


鍍銀測量范圍0.1-50um

鍍鎳測量范圍0.5-30um

鍍銅測量范圍0.5-30um

鍍錫測量范圍0.5-50um

鍍金測量范圍0.02-6um

鍍鋅測量范圍1-30um

鋅鎳合金測量范圍1-25um

鍍鉻測量范圍0.5-25um


先鋒XRF-2020測厚儀韓國Micropioneer膜厚儀


儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量

多個準直器可選擇:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm

可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換



X-RAY膜厚儀.X射線測厚儀,電鍍測厚儀,X射線金屬鍍層測厚儀,電鍍膜厚測量儀







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深圳市精誠儀器儀表有限公司

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