韓國XRF-2000金屬鍍層測厚儀

X射線或粒子射線經物質照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析

 *韓國XRF-2020測厚儀

*韓國XRF-2020測厚儀

韓國MicroPioneerXRF-2020測厚儀

標牌：Micro Pioneer  微先鋒

貨號：XRF-2020H，XRF-2020L,XRF-PCB三款

XRF-2020L型：測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg

應用于電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器半導體等行業

可測試各類電鍍層，金,銀,鎳,銅,錫,鋅,鉻,鋅鎳合金等

XRF-2020鍍層測厚儀：可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等

不限底材。

如單鍍層銅上鍍銀，銅上鍍鎳，銅上鍍鋅，銅上鍍錫，鐵上鍍鎳等

雙鍍層如銅上鍍鎳鍍金，鐵上鍍銅鍍鎳，銅上鍍鎳鍍銀等，不限底材

多鍍層如：ABS上鍍銅鍍鎳鍍鉻，鐵上鍍銅鍍鎳鍍金等，不限底材

合金鍍層如：鐵上鍍鋅鎳等。不限底材

XRF-2020測厚儀

L型測量樣品高3cm內

H型測量樣品高10cm內

長寬均為55cm