X-射線膜厚儀原理是根據X射線穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，根據該X射線的能量值，確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號，經過前置放大器放大，再由專用測厚儀操作系統轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。
X-射線膜厚儀在厚度一定的情況下，X射線的能量值為常量。當安全快門打開，X射線將從X射線源和探頭之間的被測鋼板中通過，被測鋼板將一部分能量吸收，剩余的X射線被位于X射線源正上方的探頭接收，探頭將所接收的X射線轉換為與之大小相關的輸出電壓。如果改變被測鋼板的厚度，則所吸收的X射線量也將改變，這將使探頭所接收的X射線量發生變化，檢測信號也隨之發生相應的變化。
X-射線膜厚儀組成裝置的優勢：
探頭：采用低能量的X射線，無輻射污染、環?；砻?、壽命長。X光束的能最可以通過調節加速電壓來優化測量范圍。
掃描架：O型掃描架，采用鋼板一體折彎而成，不易變形，全封閉式設計，有效防止粉塵進入測厚儀。
驅動：采用高精度伺服驅動電機，定位精度高，重復性好。閉環控制功能。
通訊：采用高速網絡通訊，確保幾臺測厚儀的掃描路徑*一致。
差值算法：X射線測厚儀不能使用簡單的面密度差值算法，采用專業X射線測厚儀的差值算法，精準的將凈涂布量的面密度計算出來。
